Testing

IEC 62321-1:2013

소개 및 개요

IEC 62321-2:2021 (更新，2021-08-30发布)

샘플의 분해, 분해 및 기계적 분해

IEC 62321-3-1:2013 

X선 형광 분광법을 사용한 전자 제품의 납, 수은, 카드뮴, 총 크롬 및 총 브롬 스크리닝

EC 62321-3-2:2020

C-IC를 사용한 고분자 및 전자 제품의 불소, 브롬, 염소 스크리닝

IEC 62321-3-3:2021 (新增，2021-09-14首次发布)

Py/TD‑GC‑MS를 사용한 고분자 내 폴리브롬화 비페닐, 폴리브롬화 디페닐 에테르, 특정 프탈레이트 스크리닝

IEC 62321-4:2013+AMD1:2017

CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 및 ICP-MS를 사용한 폴리머, 금속 및 전자 재료의 수은 측정

IEC 62321-5:2013   

AAS, AFS, ICP-OES 및 ICP-MS를 사용한 폴리머 및 전자 재료의 카드뮴, 납 및 크롬, 금속의 카드뮴 및 납 측정

IEC 62321-6:2015   

GC-MS를 사용한 고분자 내 폴리브롬화 비페닐 및 폴리브롬화 디페닐 에테르 측정

IEC 62321-7-1:2015   

무색 및 유색 금속 부식 방지 코팅에서 6가 크롬의 비색 측정

IEC 62321-7-2:2017   

고분자 및 전자 제품에서 6가 크롬의 비색 측정

IEC 62321-8:2017   

GC-MS 또는 Py-TD-GC-MS를 사용한 폴리머의 프탈레이트 측정

IEC 62321-9:2021  (新增，2021-08-30首次发布)

GC-MS를 사용한 폴리머의 헥사브로모도데칸 측정

IEC 62321-10:2020 ((新增，2020-06-24首次发布)

GC-MS를 사용한 고분자 및 전자 제품의 다환 방향족 탄화수소 측정